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40Gb/s WD-PIN-PD/TIA 组件的光电特性及其测试

来源:网络 作者:不详 时间:2007-01-19 Tag: 点击:



Δf-3dB与t r有如下近似关系:

Δf-3dB (GHz) ≈ 0.35 / t r (ns) (3)

如果t r < 11 ps,则Δf-3dB > ≈31 GHz.。
这里 ,Δf-3dB 又可表示为:

Δf-3dB ≈ 1/[2π( RC)2 + τn2 ]]-2 (4)

这里τn为电子的渡越时间。值得注意的是,RC和τn都与载流子渡越区厚度w有关。W越大,PIN结电容越小,而载流子的渡越时间则越大。这是相互矛盾的。因此W的选取应折衷考虑。
3.3 光响应度

衡量40Gb/s WD-PIN-PD的另一重要指标是光响应度(Re),它是所产生的光生电流与入射光功率的比值。光响应度不仅与吸收层材料的吸收率、吸收长度、内量子效率、入射面反射率等有关,还与PN结离表面的距离和光纤耦合效率等紧密相关。对40Gb/s WD-PIN-PD仅有0.5×6μm2的进光面来说,光纤耦合效率及光纤定位是最关键的问题。

我们设计并制作了一种楔形光纤,采用一种特定垫片和特定固化胶,使40Gb/s WD-PIN-PD在200μW光功率下,光生电流达95-120μA。

3.4 40Gb/s PIN-PD-TIA组件光接收灵敏度

通过共面波导,把40Gb/s WD-PIN-PD和40Gb/s TIA精细组装起来,40Gb/s PIN-PD-TIA组件便制作完成了。经初步测试,该组件的光接收灵敏度可达-7dBm。

4.光电特性测试

我们通过湖北省电子产品质量检验监督所和中科院微电子所(测试S21),测量了40Gb/s SDH光纤通信设备用PIN-TIA组件,其检测结果如表1所示。


表1 40Gb/s SDH光纤通信设备用PIN-TIA组件检测结果

40Gb/s WG-PIN-PD的暗电流、响应度实测装置如图5所示。


图5 40Gb/s WG-PIN-PD的暗电流、响应度实测装置

结论

通过近2年不懈的努力,我们设计并制作出了具有自己知识产权40Gb/s CE侧面进光的波导型光探测器。初步测试表明,该光探测器在-3.3V下暗电流一般可小于15nA,光响应度可大于0.45A/W,-3dB下模拟电带宽可达32GHz。

作者单位:武汉电信器件有限公司
谢辞 在40Gb/s WD-PIN-PD研制工作中,罗飙、周鹏、王进、汪飞参加了工艺制作,张学军、雷诚进行了管芯安装、光耦合和测试,在此表示衷心的感谢。
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