- 晶体管检测方法简介
- 常用晶体管检测方法 一、 二极管 的检测方法与经验 1检测小功率晶体二极管 A判别正、负电极 (a)观察外壳上的的符号标记。通常在二极管的外壳上标有二极管的符号，带有三角形箭头的一端为正极，另一端是负极。 (b)观察外壳上的色点。在点接触二极管的外壳上，通...
- 作者：发表于：2007-09-24 09:46:16 点击：221 评论：0 查阅全文...
- 锁相环电路集成电路
- 型号(规格) 数据表 生产厂家 器件名称 参考单价 兼容型号 EM92600/1 EMC 专用型锁相环（中国10频道） HT9286A/B HOLTEK 通用型锁相环 HT9287A/B HOLTEK 专用型锁相环（美国10频道） HT9288A/B HOLTEK 专用型锁相环（中国10频道） HYL21011S/J HYUNDAI 通用型锁相环 HYL...
- 作者：发表于：2007-07-10 13:04:25 点击：310 评论：0 查阅全文...
- 无需编程的虚拟式仪器开发平台
- 新华社重庆9月2日电 （记者王松涛）记者日前从重庆市信息产业局获悉，重庆大学测试中心秦树人教授成功发明出一种零编程开发系统VMIDS系统，用户不需要任何编程知识和技能，便可获得自己需要的虚拟式仪器。专家认为，这一具有完全自主知识产权的开发系统标志着我国虚拟...
- 作者：发表于：2007-07-07 02:00:23 点击：62 评论：0 查阅全文...
- 电容器检测方法
- 一、固定电容器的检测 1、检测10pF以下的小电容 因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表R×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为...
- 作者：发表于：2007-07-07 01:59:28 点击：203 评论：0 查阅全文...
- 三极管的检测方法
- 一、中、小功率三极管的检测 A判断性能好坏 (a)测量极间电阻。将万用表置于R×100或R×1K挡，按照红、黑表笔的六种不同接法进行测试。其中，发射结和集电结的正向电阻值比较低，其他四种接法测得的电阻值都很高，约为几百千欧至无穷大。但不管是低阻还是高阻，硅材...
- 作者：发表于：2007-07-07 01:58:12 点击：220 评论：0 查阅全文...
- 可控硅检测方法
- 可控硅（SCR）国际通用名称为Thyyistoy，中文简称晶闸管。它能在高电压、大电流条件下工作，具有耐压高、容量大、体积小等优点，它是大功率开关型半导体器件，广泛应用在电力、电子线路中。 一、可控硅的特性 可控硅分单向可控硅、双向可控硅。单向可控硅有阳极A、阴极...
- 作者：发表于：2007-07-07 01:57:06 点击：302 评论：0 查阅全文...
- 集成电路发明人介绍
- 他发明了集成电路，他的发明改变了世界。他寡言，他谦虚。他保持技术本色，他遵守科学原理。他已逝去。 美国德州仪器(TI)退休工程师、业界公认的集成电路(IC)第一位发明者Jack St. Clair Kilby于6月20日在美国达拉斯因癌症逝世，享年81岁。 Jack Kilby被视为微电子时代...
- 作者：发表于：2007-04-18 04:39:08 点击：186 评论：0 查阅全文...
- IT业界名词解释：IC 集成电路
- IC(Interrgrated Circuit)，积体电是将晶体管、电阻、电容、二极管等电子组件整合装至一芯片(chip)上，由于集成电路的体积极小，使电子运动的距离大幅缩小，因此速度极快且可靠性高，集成电路的种类一般是以内含晶体管等电子组件的数量来分类。 SSI (小型集成电路)，晶...
- 作者：发表于：2007-04-18 04:38:38 点击：148 评论：0 查阅全文...
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