在所使用的集成电路中，有许多是将模拟信号作为输入，经传感器转变为数字信号进行处理或直接输出，或者以数字信号输入转变为模拟信号输出。这样的数模混合系统的测试涉及模拟信号测试与数字信号测试两个方面，频率覆盖了从几Hz到上GHz的范围，其测试设备非常昂贵，而且缺乏结构化的可测试性设计(Design for Testability，DFT)解决方案。数字电路一直是边界扫描测试的重点，商品化的测试系统已有上百种。而模拟电路和数模混合电路的测试技术还存在一些问题，原因是对比单纯的数字电路，模拟及数模电路测试存在以下难点：
(1)模拟电路一般是非线性的，来源于非线性噪声和宽范围变化的参数等。
(2)数字电路可以用简单的布尔方程来描述，而模拟电路的参数特别多，其功能描述是以名义参数的简化来说明，实际上每个参数都包含一定的范围。
(3)模拟电路的故障模式众多，特别复杂。
(4)现在的集成模拟电路越来越复杂以及内部元件的不可访问性，都大大增加了测试的难度。
(5)混合电路测试不同于单纯的模拟或数字电路测试，它的测试质量不仅取决于二者各自的精度，且与它们之间的相互影响有关。比如模拟部分与数字部分都必须有相互独立的接地系统。
测试成本以及随着器件尺寸缩小产生的测试能力的限制，都使得DFT技术受到越来越多的关注。而混合电路边界扫描测试总线技术可以使混合电路的测试性得到提高。
1 混合电路故障诊断与广义特征分析
1．1 横拟电路失效类型与功能测试
模拟电路的失效情况大致可以概括为以下5类：
(1)参数值偏离正常值。
(2)参数值严重偏离正常范围，如开路、短路、击穿等。
(3)一种失效引发其他的参数错误。
(4)某些环境条件的变化引发电路失效(如温度、湿度等)。
(5)偶然错误，但通常都是严重失效，如连接错误等。
其中(1)、(3)和(4)通常只是引起电路功能偏离设计值，但仍可以工作，称为软故障；而(2)和(5)将引发电路功能的错误，是不可逆的失效，属硬故障。
在数字电路测试中通常采用的s-a失效模型，基本上可以覆盖数字电路的绝大部分失效情况，但在模拟电路测试时情况有所不同，硬故障占总数的83.5％，因此至少有16.5％的失效情况不能由失效模型得到。边界扫描技术属于结构测试的范围，它不是试图验证器件的功能性，而是采用适当的失效模型来检测目标故障，结构测试必须建立电路的故障模型，但是由于模拟电路的输入输出的复杂性和软故障的存在，它的故障模型很难建立。即使采用了失效模型，也还需要用SPICE等仿真软件来模拟发生某种失效时的实际结果。所以模拟电路和模数混合电路的测试，目前主要的策略仍是采用功能测试来检测设计的正确性。随着VLSI技术的不断发展，详尽的无故障特性模拟混合功能测试已成为模拟电路测试的主流，用于检测任何的特性偏移。
1．2 广义特征分析故障隔离方法
模数混合电路故障诊断的思路是：在电路测试之前，用计算机模拟电路运行状态或根据专家提供的经验建立故障字典，电路测试后根据测量信号和某种规则比较故障字典中的特征值和实测的特征值来确定故障。广义特征法是一种库函数映射提取特征的方法，能较好地解决模数混合电路的故障隔离问题。
任何一种电路工作正常与否都体现在给定的输入情况下是否能得到正常的输出。而输入、输出都可以用一簇随时间变化的函数表示，如图l所示。输入函数簇为fli(t)(i=1，2……n)，输出函数簇为矗fOj(t)(j=l，2……m)。若要进行故障诊断，需要进行的工作主要来有两方面：一方面是给系统以必要的激励，即确定输入函数fli(t)；另一方面是判断输出fOj(t)是否正常。对于电路输入端的激励，可以用波形存储设备事先将信号采集下来，然后用软件完成特征提取存储在计算机中，进行测试时再将特征码变换成波形数据，然后用任意波形发生器将数据转换成激励信号。对输出信号也可以用波形存储设备将信号存储下来，压缩成特征码，将所提取的特征与正常特征相比较，从而判定电路正常与否并定位故障。
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